一、设备用途：

    适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、精密组件、零件接脚氧化试验。

二、主要技术参数：

规格型号： HE-ZQ-5417

内部尺寸： 500×400×170（W×H×D）mm；

外部尺寸： 600×500×420（W×H×D）mm

内外箱材质： SUS304#优质不锈钢板

控制功能： PID+SSR，数字式显示

升温时间： 大约40分钟，

蒸气温度： ≥97℃

计时功能： 1～9999H/M/S，附时到报警功能，时间到达后切断电源

水位控制： 低水位报警功能

电源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW